SE670 Induktiver Leitfähigkeitssensor | Überwurfmutter G 1 1/2" | PP | Unempfindlich gegen Verschmutzungen und Korrosion
Description
Competitively priced digital sensor for measuring low to very high conductivity values, insensitive to contamination and corrosion.
Digitaler Leitfähigkeitssensor für Messungen von kleinen bis zu hohen Leitfähigkeiten.
- Medienberührter Werkstoff: PP
- Kompakte Bauform
- Unempfindlich gegen Verschmutzung und Belagbildung
- Sechs Dekaden umfassender Bereich
- Induktives Messprinzip, vollständige galvanische Trennung der Sensorspulen vom Messmedium
- Digitale Datenübertragung
- Kabellänge bis 100 m
Der SE670 ist ein universeller Leitfähigkeitssensor mit kompakter Bauform. Die Kombination aus großer Sensoröffnung und schmutzabweisendem Material beugt Verblockungen und Ablagerungen in Medien mit hohem Verschmutzungsgrad vor. Das induktive Messprinzip ermöglicht eine vollständige galvanische Trennung der Messung vom Medium.
Der Sensor ist ein Allrounder und durch seinen sechs Dekaden umfassenden Messbereich für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet.
Applikationen
Frisch- und Abwassertechnik, Galvanik, fotografische Prozesse, Klimaanlagen, Kühlturmüberwachung, innerbetriebliche Kläranlagen, Salz-, Laugen- und allgemeine Konzentrationsüberwachung, Gerbereien, Beizmittelaufbereitung, Waschanlagen, Fahrzeugtechnik, Spülprozesse
- Digital data transfer
- Cable length up to 100 m
- Competitively priced
- Compact design
- No process-wetted electrodes
- Large measuring range
- Quick-reacting temperature detector
- Insensitive to deposits and contaminations
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Betriebe: | Gerbereien |
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Druck: | max. 6 bar (60 °C), max. 10 bar (20 °C) |
Material: | PP (Polypropylen) |
Messbereich : | 0,02 … 2000 mS/cm |
Messparameter: | Leitfähigkeit (induktiv) |
Messprinzip: | Induktiv |
Prozessanschluss: | Überwurfmutter G 1½″ |
Signalübertragung: | digital |
Steckkopf: | M12 |
Temperatur: | 0 ... 60 °C (kurzzeitig 100 °C) |
Temperaturfühler: | Pt1000 |
Zellfaktor: | ca. 6,4/cm |
Temperature response time: | schnell durch Hochrechnung mit neuronalem Verfahren |